LIBS旁路式矿石品位分析系统
简介
威视®MG系列旁路式矿石品位分析系统基于激光诱导击穿光谱（LIBS）技术，专为矿山动态采样与闭环分选场景设计。系统通过智能分流装置从主传送带提取矿石样本至旁路检测区，利用高能激光激发样品表面等离子体，结合AI算法实现50+元素（Li-U）的秒级分析（单次检测≤1秒），检测精度达ppm级，重复性误差＜5%。
威视®MG系列旁路式矿石品位分析系统基于激光诱导击穿光谱（LIBS）技术，专为矿山动态采样与闭环分选场景设计。系统通过智能分流装置从主传送带提取矿石样本至旁路检测区，利用高能激光激发样品表面等离子体，结合AI算法实现50+元素（Li-U）的秒级分析（单次检测≤1秒），检测精度达ppm级，重复性误差＜5%。
技术特点
- 精准动态采样
采用权重随机采样算法，根据矿石流量与粒度分布自动优化采样频率，确保数据代表性（偏差＜5%）。 - 高效低干预
全自动运行，单次自动取样检测15min，无需人工干预。 - 强抗干扰设计
IP68防护等级，配备自清洁激光窗口与粉尘隔离舱，适应高粉尘、高湿度矿山环境。 - 灵活兼容性
支持Modbus TCP/OPC UA协议，无缝对接各种中控管理平台。
应用场景
- 粗选段预检
在矿石粗碎后工段实时监测品位波动（如铁矿Fe含量），动态调整后续分选阈值，降低无效加工能耗。 - 混矿质量控制
对混合矿石（如铜锌多金属矿）进行成分比例监控，防止品位不均导致的冶炼工艺异常。 - 尾矿再选监控
在线检测尾矿旁路样品中有价元素残留，触发再选设备启动。
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