8月12日，第34届中国国际测量控制与仪器仪表展览会（MICONEX 2026）在合肥滨湖国际会展中心开幕。本届展会以“合作·创新·共赢”为主题，吸引了来自10余个国家和地区的500余家知名企业参展，集中展示自动化仪表、传感器、过程分析、智能制造与数字化解决方案等领域的前沿技术与创新成果。
同期举办的中国测量控制与仪器仪表产业大会、中国仪器仪表学会学术年会及全国仪器科学与技术学科院长论坛等系列活动，汇聚行业专家、知名企业与科研院所代表，围绕产业政策、技术研发、应用场景及产业链协同等热点议题深入交流，为从业者提供行业洞察与合作机遇。
同方威视首席科学家陈志强受邀出席学术年会主论坛，并作《X射线安检装备技术创新与智能化发展》主题报告。报告系统回顾了我国X射线安检装备技术的发展历程，重点介绍了团队在物质分辨、高速成像、智能审图等领域的系列创新成果，并对新一代安检装备的发展方向作出展望。
展会期间，陈志强在展台接待行业领导及业内专家，面对面讲解同方威视核心技术研发路径与成套解决方案。技术团队同步配合展示产品优势与应用案例，现场交流氛围热烈。凭借过硬的技术实力与成熟的场景化方案，众多专家与客户驻足交流，对自主创新成果给予高度评价，收获广泛好评。
本次展会同方威视携多款自主研发的智能检测与精密测控核心产品重磅亮相，全面展示了同方威视在智能安检、无损检测、元素分析、放射性监测、违禁品筛查等领域的技术沉淀与研发实力。参展阵容涵盖海关行包/货物智审系统、电芯品质在线检测系统、便携式高纯锗γ谱仪、放射性废物桶γ扫描测量系统、手持式背散检查仪、便携式多功能痕量违禁品探测仪、台式LIBS元素分析仪等全系列产品。上述产品兼具高精度、高稳定性、智能化与便携化优势，广泛适用于海关查验、轨道交通、公共安防、工业质检等关键领域。
此次参展既是同方威视科研创新实力与产品硬实力的集中展示，也是同方威视深耕智能安防与精密检测领域、拥抱产业变革的重要契机。未来，同方威视将持续聚焦智能安检与精密探测核心赛道，坚持自主创新与技术攻坚，迭代核心产品、优化整体解决方案，积极赋能制造业数字化、智能化升级，助力国产仪器仪表产业高质量发展。
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