在8月13日长沙举办的“中国测量控制与仪器产业大会（CIC）”上，我国安检技术领域权威专家、同方威视技术股份有限公司首席科学家陈志强教授，分享了题为《智能化安检仪器及其发展》的专题报告。报告深度解析了安检技术的最新进展与未来发展趋势，并着重强调了产学研协同创新的关键作用。 陈志强教授长期深耕X射线成像技术及装备研究，带领团队推动同方威视成为全球安检产品与解决方案的领先供应商。报告中，他重点介绍了多项前沿技术，包括宽能谱全物质高精度分辨技术、薄壁大孔径高速在线CT技术，以及秒级智能审图技术。 陈教授系统阐述了“产学研用”协同创新机制对推动安检技术进步的核心价值。他前瞻性地指出安检仪器发展的“四大趋势”：多模态（融合多种探测技术）、超高速（提升检测通量）、更智能（深化AI应用）、网络化（实现信息互联互通）。 尤为值得关注的是，作为高端仪器行业的领军者，陈志强教授在报告中提出了多个面向国家重大需求的“揭榜挂帅”课题，涵盖安检仪器核心器件、核心技术和核技术应用等关键领域。他呼吁以学会为平台，广泛凝聚行业力量，倡导开放合作，共同攻关，加速推动我国安检仪器仪表技术的自主创新与高质量发展。 本次报告不仅展示了我国在高端安检仪器领域的最新成果，更清晰地指明了未来发展方向。其所提出的协同攻关倡议，为行业突破核心关键技术、提升国际竞争力提供了清晰路径。 同方威视携安检设备亮相产业大会同期举办的第33届中国国际测量控制与仪器仪表展览会（MICONEX），得到与会嘉宾、业界同仁广泛关注。作为一家业务覆盖全球170余个国家和地区的中国高科技企业，同方威视是科技成果转化的典范，正如陈志强教授总结：依托学会平台，立足需求、同行合作、优势组队、解题破题，期待催生更多合作，助力产业协同创新高速发展。