2018 年 4 月 16 日至 20 日，李元景高级副总裁带队，同方威视参加了在奥地利首都维也纳举办的IAEA（国际原子能机构）第二次核安保辐射探测仪器的趋势、挑战和机会技术会议。会议旨在汇聚辐射探测仪器专家、用户及设备制造商，共同探讨辐射探测领域所面临的新威胁和发展趋势。
会议期间，李元景高级副总裁与IAEA辐射安全局领导就双方深化设备维护和人员培训合作、参与IAEA全球项目等议题进行了深入交流，为未来充分利用好IAEA这一国际平台提供了重要指导性意见。此外，智能产品本部总工程师李玉兰代表同方威视在主会议现场致辞演讲，介绍了同方威视的基本情况，并着重宣传了同方威视各类辐射探测设备的特性特点及应用前景，得到了与会代表的广泛关注。
展会期间，结合本届论坛主题，同方威视重点宣传展示了全系列辐射探测技术产品，取得了良好的展示效果。特别是本次首度亮相的高纯锗辐射探测仪，凭借其自主研发背景、行业领先的辐射探测能力等特点，吸引了不少来自IAEA成员国及业界的专家到访展台咨询交流。同方威视先后接待了来自法国、马来西亚、奥地利、埃及、孟加拉等多个国家和地区的辐射探测专家。