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同方威视高纯锗谱仪亮相美国SORMA会议
      2018年6月11日至14日,同方威视自主知识产权高纯锗谱仪第一次走出国门,亮相2018年SORMA会议现场。
      SORMA会议(全称Symposium on Radiation Measurements and Application),由美国密歇根大学1964年组织发起,至今已连续举办17届,主要邀请有关探测器、辐射源、能谱学、信号处理、数据分析和设施等方面的电离辐射测量专家学者,围绕剂量学、环境测量、无损检测等先进技术应用及新的研究成果进行学术讨论,在世界范围内具有重要学术影响和地位。此次同方威视自行研发的高纯锗谱仪精彩亮相,众多与会专家学者兴趣盎然,纷纷表示赞赏。
      本次会议充分展示了同方威视产品的技术实力,对提高同方威视在核测量学术应用领域的影响力具有深远意义。
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